【佳學(xué)基因檢測(cè)】提高基因檢測(cè)檢出率與陽(yáng)性率的單基因突變分析法
單基因病的致病基因鑒定導(dǎo)讀:
全外顯子組測(cè)序?yàn)榘l(fā)現(xiàn)與單基因疾病相關(guān)的基因提供了新的檢測(cè)范圍,并大幅度獲得了與疾病相關(guān)的基因序列。但是對(duì)于以數(shù)據(jù)庫(kù)比較為基礎(chǔ)的常規(guī)基因檢測(cè)業(yè)說,如何在大量的基因變異中找到致變基因突變對(duì)很多基因檢測(cè)機(jī)構(gòu)來說都是一個(gè)挑戰(zhàn)。基因解碼分析方法從多個(gè)方面為這一困難提供了解決方法。其中之一是以基因而不是位點(diǎn)為解碼對(duì)象的藶在突變負(fù)擔(dān)測(cè)試。在這種方法中,基因解碼創(chuàng)造性地采用了對(duì)每一個(gè)基因的合格基因序列變化進(jìn)行集合分析的大數(shù)據(jù)算法,通過比較患者和健康對(duì)照者之間的累積突變頻率,從而增加基因檢測(cè)的檢出率和陽(yáng)性率。這種方法取得了巨大的成功,但佳學(xué)基因發(fā)現(xiàn)許多單基因疾病的遺傳原因仍然未知或僅部分已知。特定的遺傳結(jié)構(gòu)可能會(huì)降低發(fā)現(xiàn)率,但這些因素對(duì)基因解碼的權(quán)重的影響尚未得到嚴(yán)格評(píng)估。在這里,佳學(xué)基因解碼利用大規(guī)模外顯子組測(cè)序基因檢測(cè)數(shù)據(jù)創(chuàng)建一個(gè)基于經(jīng)驗(yàn)的模擬框架來評(píng)估關(guān)鍵參數(shù)(背景變異率、基因座異質(zhì)性、遺傳模式、外顯率)在單基因疾病背景下以疾病為分析對(duì)象的基因突變負(fù)荷的權(quán)重?;蚪獯a的結(jié)果表明,在不同的基因之間,由于每個(gè)基因中罕見變異的背景率存在差異,因此獲得有效的權(quán)重分析所需的樣本量范圍很廣。增加基因座異質(zhì)性會(huì)導(dǎo)致獲得足夠功效所需的樣本量迅速增加,特別是當(dāng)單個(gè)基因在常染色體顯性模型下占不到 5% 的病例時(shí)。有趣的是,由于單基因疾病的發(fā)病率低,低至 10% 的不有效外顯率對(duì)基因解碼的效果幾乎沒有影響?;蚪獯a的結(jié)果表明,中度不有效外顯率不是這種基于基因的基因檢測(cè)突變負(fù)荷測(cè)試方法的障礙,但具有高位點(diǎn)異質(zhì)性的顯性疾病則需要大樣本量對(duì)分析方法進(jìn)行建模和驗(yàn)證。